膜厚計・膜厚測定器のフィッシャー・インストルメンツ                YouTube-logo-full color


 

高精度・高信頼性の渦電流式膜厚計・電磁式膜厚計・蛍光X線膜厚計・膜厚測定器

 
業界最高レベルの膜厚測定精度と長期安定性を提供する、ヘルムート・フィッシャー社製(独)の膜厚計・膜厚測定器です。あらゆる膜厚測定のアプリケーションに適応できる、様々な膜厚計・膜厚測定器・各種プローブ・較正スタンダード・アプリケーションソフトを取りそろえております。磁性金属や非磁性金属下地上の膜厚や、絶縁材上の金属膜などの測定を、ハンディタイプ・卓上タイプからインラインタイプまで豊富なラインアップを有し幅広い分野で活躍しています。また、素材分析器・材料試験器・微小硬さ試験器においても各種ニーズに対応した製品をご提供しております。  
snow  渦電流式・渦電流位相式(位相変位感応式)・電磁式・ホール効果磁気式・電気抵抗式・β線後方散乱式の膜厚計  (ハンディタイプと小型卓上タイプがあります。)    
snow  蛍光X線膜厚計・素材分析器     (卓上タイプ
snow  蛍光X線膜厚計・素材分析器     (量産用インラインタイプ)                                          
square  電解液を使用の電解式膜厚計   (卓上タイプ)                         square 破壊タイプの膜厚計       snow 非破壊タイプ膜厚計    
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portable12 DE MP0R-04 Zn on Fe big   top11 DE fmp100 01 instr big   PMP10DUPLEX web   portable18 DE SR-Scope 03 PCB big   top13 DE MMSPC2 01 instr big

ポケットタイプ膜厚計
MP0R(プローブ内蔵)
MP0R-FP(プローブ外付)

  ハンディ膜厚計
FMP10,30,20,40
FMP100,150
 

渦電流位相式膜厚計
PMP10
PMP10 DUPLEX

  電気抵抗式銅膜厚計
SR-SCOPE RPM30-S
 

マルチタイプ汎用測定器
膜厚測定・材料試験
MMS PC2

 

 

 

 

 

TDS XAN215 952-097 180 160   top15 DE XDAL display Sn bulk big   Xray3 DE XDV-SDD nonpvc big   Xray12 DE XDV mueh display 2 big  
蛍光X線膜厚測定 ・素材分析
(固定ステージ)
 XAN
  蛍光X線膜厚測定 ・素材分析
電動テーブル
XDL, XDLM, XDAL
  蛍光X線膜厚測定 ・素材分析
電動テーブル・高感度分析
XDV-SDD
  蛍光X線膜厚測定 ・素材分析
大型サンプル上の微小部分分析
XDV-μ
 
       

top16 DE XRAY program EN   top17 DE XRAY program EN   top18 DE XUV773 vacuum mirror 2 big   TDS CMS2 en 942-002 206x153   top20 DE Bunch of Probes big
ストリップ物インライン用
X-RAY 4000
   ソーラーセルライン用
X-RAY 5000
  真空・He内測定
XUV773
  メッキ皮膜測定(破壊式
CMS2
  豊富なプローブ・オプション
  
** 画像クリックで各機器の詳細にリンクします。  
 
 

 

 
 

 最新ニュース

 

2016.04:お知らせ) 「Windows10」へのアップグレードに関するご注意

2016.04.21: Feritescope FMP30 表示画面がカラーになりました。これに伴い、本体の発注番号が変更されました。機能・プローブの仕様に変更ありません。

 

2016.04: 2016年4月発行 ニューズレター Fischerscope13  内容) アジア向け銀合金鑑定用の標準板の発表、WinFTMソフトで未知の組成の含有量分析
                  (バックナンバー: No.1, No.2, No.3, No.4, No.5, No.6, No.7, No.8, No.9, No.10, No.11No.12     

 

2016.03: アプリケーション事例を盛り込んだ新ウェブサイトを開始しました。➡膜厚計.com、➡素材分析.com、➡硬さ試験.com、➡材料試験.com

2015.10.18: 新型装置のカタログ追加
                 プリント回路基板用集光レンズタイプ蛍光X線測定器 FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μPCB

2014.04:   (株)フィッシャーインストルメンツの会社案内 新事務所住所などアップデートしました)

 

2013.10:  汎用型測定装置 FISCHERSCOPE MMS PC2 (旧カタログを全面改訂しました)

 
 

2013.08:  超小型ポケットタイプ膜厚計カタログ PERMASCOPE MP0R とMP0R-FP-V1GB2

 
 

 

 

 

モデル名 タイプ 方式 目的 特記事項 リンク

DUALSCOPE MP0R

ポケットタイプ膜厚計

渦電流式・電磁式膜厚計

2方式の自動切替 (USB接続)

内蔵プローブ

 

詳細へ
カタログ

DUALSCOPE MP0R-FP ポケットタイプ膜厚計 渦電流式・電磁式膜厚計 2方式の自動切替 (USB接続) 外付プローブ
DUALSCOPE MP0R-FP-BT ポケットタイプ膜厚計 渦電流式・電磁式膜厚計 2方式の自動切替 (Bluetooth接続) 外付プローブ
PERMASCOPE MP0R ポケットタイプ膜厚計 電磁式膜厚計 磁性金属上の非磁性膜厚測定 内蔵プローブ
PERMASCOPE MP0R-FP-V1GB2 ポケットタイプ膜厚計 電磁式膜厚計 磁性金属上の非磁性皮膜 外付プローブ
DELTASCOPE FMP10 ハンディ膜厚計(スタンダード) 電磁式膜厚計 磁性金属非磁性膜厚測定
DELTASCOPE FMP30 ハンディ膜厚計(統計分析つき) 電磁式膜厚計 磁性金属非磁性膜厚測定
ISOSCOPE FMP10 ハンディ膜厚計(スタンダード) 渦電流式膜厚計 非磁性金属の絶縁膜厚測定
ISOSCOPE FMP30 ハンディ膜厚計(統計分析) 渦電流式膜厚計 非磁性金属の絶縁膜厚測定
DUALSCOPE FMP20 ハンディ膜厚計(スタンダード) 渦電流式・電磁式膜厚計 2方式の膜測定が可能
DUALSCOPE FMP40 ハンディ膜厚計(統計分析) 渦電流式・電磁式膜厚計 2方式の膜測定が可能
DUALSCOPE FMP100 ハンディ膜厚計(カラー・品管) 渦電流式・電磁式膜厚計 2方式の膜測定が可能
DUALSCOPE FMP150 ハンディ膜厚計(カラー・品管) 渦電流式・電磁式・ホール効果 3方式の膜測定が可能 3方式
PHASCOPE PMP10 ハンディ膜厚計(1方式測定) 渦電流位相式膜厚計 プリント基板上の絶縁被膜測定

PHASCOPE PMP10 DUPLEX

ハンディ膜厚計(3方式測定)

渦電流位相+電磁式+渦電流式

2層同時測定(鉄上のZn・塗装)

3方式

SR-SCOPE RPM-30-S ハンディ膜厚計 電気抵抗式膜厚計 プリント基板上の銅メッキ厚
FISCHERSCOPE MMS PC2 卓上型(CE+LAN付) 8chマルチ式 膜厚・導電率・フェライト量など測定 8方式 詳細へ
FISCHERSCOPE X-RAY XUL210 卓上型 (固定サンプル台) 蛍光X線膜厚計(下線源) 素材分析(膜厚測定) アパチャ固定 PC 詳細へ
カタログ
FISCHERSCOPE X-RAY XAN215 卓上型 (固定サンプル台) 蛍光X線膜厚計(下線源) 素材分析(膜厚測定) アパチャ固定 PIN
FISCHERSCOPE X-RAY XAN250 卓上型 (固定サンプル台) 蛍光X線膜厚計(下線源) 素材分析(膜厚計測)
アパチャx4 ・フィルタx6
SDD
FISCHERSCOPE X-RAY XAN252 卓上型 (固定サンプル台) 蛍光X線膜厚計(下線源) 素材分析(膜厚測定) アパチャx4 SDD
FISCHERSCOPE X-RAY XULM240 卓上型 (手動サンプル台) 蛍光X線膜厚計(下線源)

膜厚計測(素材分析)
アパチャ固定・チャンバー大・フィルタx3

PC
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 卓上型 (電動サンプル台) 蛍光X線膜厚計(上線源) 膜厚計測(素材分析) アパチャ固定 PC
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 卓上型 (電動サンプル台) 蛍光X線膜厚計(上線源) 膜厚計測(素材分析) アパチャx4 ・フィルタx3 PC
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 卓上型 (電動サンプル台) 蛍光X線膜厚計(上線源) 膜厚計測 ・素材分析 アパチャx4 ・フィルタx3 PIN
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ 卓上型 (高精度電動台) 蛍光X線膜厚計(上線源) 微小部(20µm~)の膜厚計測(素材分析)
ポリキャピラリ集光 ・フィルタ x4
SDD
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD 卓上型 (高精度電動台) 蛍光X線膜厚計(上線源) 薄い膜厚計測 ・素材分析
アパチャ x4 ・ フィルタ x6
SDD
FISCHERSCOPE X-RAY XUV 773 卓上型 (高精度電動台)
真空チャンバ式
蛍光X線膜厚計(上線源) Na~軽元素を真空中で分析・薄膜測定
アパチャ x4 ・ フィルタ x6
SDD
FISCHERSCOPE X-RAY 4000 製造ライン組み込み型 蛍光X線膜厚計(上線源) ストリップ被膜厚・材質連続測定 自由選択
FISCHERSCOPE X-RAY 5000 製造ライン組み込み型 蛍光X線膜厚計(上線源) ソーラーセルで膜厚・材質連続測定 自由選択
COULOSCOPE CMS2 卓上型  (破壊式) 電解式 (電量分析式) 金属皮膜測定 (DIN EN ISO 2177 準拠) 電流使用

詳細へ

 

 

COULOSCOPE CMS2 STEP 卓上型  (破壊式) 電解式 (電量分析式) Ni多層膜測定 (ASTM B 764 準拠) 電流使用